射线平移二次缺陷定位方法的探讨
当射线检测发现零件存在超出使用性能要求的缺陷时,需要排除缺陷.排除缺陷造成的挖补和修理区域应尽可能的小,以减小应力和对材料组织性能的改变.这就需要在修补前确定缺陷的深度.常规的射线检测获得的是零件的二维投影信息,无法判断缺陷的深度,通过对二次平移透照法的研究,探索这种方法的可行性,并从理论和试验两个方面提出方法的改进,以减少相应的误差,为实际检测提供参考.
缺陷、射线检测、深度定位、误差、二次平移透照
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TG115.28(金属学与热处理)
2016-11-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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