多源法(Ir192)检测超限设备的应用

摘要：

介绍多源法(Ir192)检测超限设备技术的原理,针对大型设备射线检测的难点,将多个γ源进行捆绑合并为一颗γ源进行曝光,并对其原理和可行性进行了论证.检测结果表明多源法射线检测可以达到国家标准的质量要求,比单源透照提高工效近60％.透照时间明显降低.

关键词：多源法(Ir192)、废片率、透照时间、源强度、双焦点

所属期刊栏目：38

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2014-08-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：36-38