10.3969/j.issn.1671-4423.2013.06.006
基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法
提出了一种利用频谱分析法从超声衍射时差法(TOFD)检测中直通波与缺陷上尖端衍射波混叠波形中提取缺陷位置信息,进而确定缺陷埋深的方法.对厚度为35mm的碳钢试块中埋深5mm的底面开口槽进行了实验测试,效果较好.分析表明,在本文采用的检测参数下,利用该方法理论上可将近表面盲区深度从8.3mm减小至3mm.并进一步讨论了该方法在减小TOFD近表面盲区问题中的适用范围、优点与局限性.
超声衍射时差法、盲区、频谱分析
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TG115.28(金属学与热处理)
“十二五”国防技术基础科研项目Z0220120001
2014-06-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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