基于衍射和反射回波的相控阵超声缺陷定量——第十七届世界无损检测会议专题报道之一

摘要：

介绍对平面状缺陷:根据上下端点的衍射回波间距,对体积状缺陷:根据主反射回波与二次回波问距,用超声相控阵扇形(S型)扫描图像进行定量的方法.实验表明:用此法对缺陷表征、定量,简易快捷,结果可靠.

关键词：超声检测、相控阵、缺陷定量、衍射回波、反射回波

所属期刊栏目：33

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2009-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1-4