基于AR-TFM方法的超声成像分辨力提升

摘要：

将多频带自回归(AR)谱外推和全聚焦方法(TFM)相结合,提出了一种AR-TFM方法,可将超声成像分辨力从波长级提升至亚波长级.采用基于高阶累积量的奇异值分解方法确定AR阶数,选择多组有效频带外推处理全矩阵数据中的阵列信号,并对结果进行平均加权,最后实施延时叠加和逐点成像,提高该方法的适用性和鲁棒性.分别采用TFM和AR-TFM方法对碳钢试块进行检测,并对其检测结果进行对比.仿真和试验结果表明,AR-TFM方法能够突破瑞利准则的限制,有效提高超声成像分辨力,实现了碳钢试块3个中心距为0.7λ(λ为超声波长)的相邻圆孔的分离,缺陷深度定位误差不超过1.8％,中心距定位误差不超过15％.

关键词：自回归谱外推;全聚焦方法;成像分辨力;AR-TFM

所属期刊栏目：43

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

资助基金：国家自然科学基金;辽宁省"兴辽英才计划"项目

在线出版日期：2022-01-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1-4,80