X射线照相技术的检测参数系统全景设计
根据X射线照相曝光曲线的技术特点,形成了X射线照相技术的检测参数系统全景设计.在全景设计图上可以进行设备的选用及性能比较,确定具体的透照参数,预设底片黑度结果,明确具体工艺的影像清晰度.提出了“球锥场”与“圆锥场”结合的分析方法,以全景设计图为基础可以开发检测参数分析软件,实现不同厚度工件的组合检测.
X射线照相、全景设计、分析软件、组合检测
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TG115.28(金属学与热处理)
2019-08-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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