基于X射线实时成像技术的产品缺陷检测

摘要：

X 射线实时成像技术可以检测低密度粉末冶金产品中的缺陷尺寸，但计算过程较为复杂。设计了评估缺陷尺寸的标尺，分析了标尺位置与检测准确度的相关性，简化了 X 射线实时成像检测粉末产品缺陷的评判过程，提高了工作效率，具有重要的工程应用价值。

关键词：X射线实时成像、缺陷、测量

所属期刊栏目：39

分类号：TG115.28;TB98(金属学与热处理)

在线出版日期：2017-03-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：61-63,66