复合材料的相控阵超声C扫描成像检测

摘要：

为了实现复合材料的大面积快速 C 扫描检测以及特殊位置的双轴定位 C 扫描检测，结合相控阵超声 C 扫描成像检测技术，开发了滚轮探头单轴 C 扫描检测系统用于复合材料大面积快速扫查，双轴拉线编码器定位 C 扫描检测系统用于特定位置的双轴定位 C 扫描检测。试验结果表明，滚轮探头 C 扫描检测系统耦合效果好，扫查速度快，特别适合航空航天领域复合材料的快速C 扫描检测；双轴拉线编码器定位 C 扫描检测系统对特定区域进行 C 扫描检测，具有扫查定位准确、探头移动灵活、重复覆盖性好、对缺陷精确定量的优点。

关键词：复合材料、相控阵超声检测、C 扫描、滚轮探头、双轴拉线编码器

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2015-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：38-41