基于 SAFT 提高 TOFD 检测缺陷长度定量精度的探讨
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

基于 SAFT 提高 TOFD 检测缺陷长度定量精度的探讨

引用
针对超声衍射时差(TOFD)方法中由于存在甩弧现象导致缺陷长度测量误差大的问题,借助 CIVA 仿真软件及合成孔径聚焦技术(SAFT),对长度范围5.0~45.0 mm 的9个矩形槽的 D 扫图像进行处理与重建。结果表明,D-SAFT 处理技术能够有效降低干扰衍射信号的影响,使缺陷甩弧现象减弱甚至消失,缺陷最大测量误差由处理前的最大5.0 mm 降低至0.6 mm。此外,对 Farhang 等人提出的变角度解卷积(ADD)结合 SAFT 方法(SAFTADD)在提高 TOFD 缺陷定量精度上的应用前景进行了展望。

超声衍射时差法、合成孔径聚焦技术、缺陷长度定量、变角度解卷积

TG156;TG115.28(金属学与热处理)

十二五国防技术基础科研资助项目Z022014T001;大连理工大学引进人才科研资助项目DUT14RC3135

2015-07-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

18-21

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

无损检测

1000-6656

31-1335/TG

2015,(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn