二次射线照相法计算支撑绝缘子缺陷尺寸

摘要：

将设备缺陷分成表面缺陷与内部缺陷两种情况进行讨论,表面缺陷尺寸直接利用三角形相似定理进行计算,而内部缺陷则需用二次透照方法所得的图形利用两次三角形相似定理进行计算.最后将设备解体(即打开罐体)后直接对缺陷进行测量,将这直接测量值与以前透照方法所得的计算值进行比较,验证了该方法的准确性.

关键词：X射线、缺陷尺寸、计算方法

所属期刊栏目：35

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

资助基金：云南电网公司重点资助项目"基于X射线的电力设备数字成像透视检测系统研发与应用"K-YN2010-301

在线出版日期：2013-07-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：78-80