基于CMOS探测器的环焊缝检测系统设计
针对常规X射线照相检测技术检测环焊缝时工作效率低的问题,结合数字成像技术的发展,利用空间分辨率较高的CMOS成像面板,拆除成像板中的扫描驱动机构,重新设计检测系统,对环焊缝进行数字化扫描检测,从而快速、高质量地完成环焊缝的射线检测工作.
环焊缝、扫描检测、CMOS探测器
35
TG115.28;TG441.7(金属学与热处理)
2013-04-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
69-70,73
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环焊缝、扫描检测、CMOS探测器
35
TG115.28;TG441.7(金属学与热处理)
2013-04-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
69-70,73
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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