亚毫米波成像技术对工业排线的无损检测

摘要：

利用亚毫米波准近场实时成像系统对三种常用的微小结构的工业电子排线进行检测,直接获得了样品在信号峰值处的强度图像.分别对样品中的金属、缺陷及包覆材料连接处抽取数据,并对其进行频谱及相位处理,在时域、频域及相位图中做了对比与分析.通过对原始图像进行图像处理后,分别得到振幅和相位图像,其中相位图像能更清晰地反映排线中隐藏的缺陷.结果证明,亚毫米波准近场成像系统可以用于具有细微结构材料的无损检测.

关键词：亚毫米波、准近场成像、无损检测

所属期刊栏目：32

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

资助基金：国家973资助项目2007CB310408;北京市教委科技资助项目KM200810028008

在线出版日期：2010-07-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：112-115