TOFD检测中采用二次波评定近扫查面缺陷尺寸的方法

摘要：

在TOFD检测过程中,因直通波宽度而产生的近扫查面盲区对检测影响很大.为精确定量位于近扫查面盲区的缺陷,制作了人工缺陷试块,对其采用常规TOFD以及TOFD二次波分别进行扫查.对比两种扫查方式所得TOFD图像可见,常规TOFD技术对近扫查面缺陷极易漏检且无法定量,而利用TOFD二次波扫查方式得到的图像能够显著分辨出缺陷并能精确定量,因此可弥补常规TOFD检测中对近扫查面缺陷检出能力的不足.

关键词：超声波衍射时差技术、近扫查面盲区、直通波、二次波扫查

所属期刊栏目：31

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2009-11-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：694-696