基于2D投影的BGA焊点X射线检测缺陷图像处理方法

摘要：

讨论了BGA封装器件焊接的特点,并对BGA封装器件焊点检测方法进行了阐述.采用X射线检测法,通过图像处理技术检测每个焊点的面积、质心和圆度,以此来判断焊点是否有漏焊、焊锡球、桥连、焊球过大或过小、偏移以及焊球变形等缺陷.试验证明,所用系统可以快速、准确地检测出BGA封装器件中常见的焊点缺陷,为BGA封装器件焊点的质量提供保障.

关键词：X射线实时成像、BGA焊点、图像处理

所属期刊栏目：31

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2009-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：456-459