10.3969/j.issn.1000-6656.2008.06.002
一种基于检测技术级别的射线检测参数优化方法
分析了JB/T 4730--2005标准对两类检测技术级别的规定.应用曝光曲线、胶片特性曲线方程以及技术级别的规定,建立了几何、物理透照参数间的函数关系.讨论了同时满足JB/T 4730--2005标准规定的透照厚度比K值与黑度范围△D0所需的参数条件.提出一种选择射线检测参数的优化方法,并通过实验进行了验证.结果表明,应用该方法可对检测参数优化,且使标准对技术级别的规定得到满足,解决了射线检测中分立选择几何、物理透照参数存在的问题.
射线检测、技术级别、检测参数、优化
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TG115.28(金属学与热处理)
2008-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
329-331,352