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10.3969/j.issn.1000-6656.2008.06.002

一种基于检测技术级别的射线检测参数优化方法

引用
分析了JB/T 4730--2005标准对两类检测技术级别的规定.应用曝光曲线、胶片特性曲线方程以及技术级别的规定,建立了几何、物理透照参数间的函数关系.讨论了同时满足JB/T 4730--2005标准规定的透照厚度比K值与黑度范围△D0所需的参数条件.提出一种选择射线检测参数的优化方法,并通过实验进行了验证.结果表明,应用该方法可对检测参数优化,且使标准对技术级别的规定得到满足,解决了射线检测中分立选择几何、物理透照参数存在的问题.

射线检测、技术级别、检测参数、优化

30

TG115.28(金属学与热处理)

2008-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

329-331,352

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1000-6656

31-1335/TG

30

2008,30(6)

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