CMOS探测器在射线检测中的应用

摘要：

以CMOS探测器为记录介质的数字化射线检测技术,检测精度高、温度适应性好、结构适应性强.CMOS射线扫描探测器探测单元排成线阵列,需要在检测时进行相对扫描运动,逐线采集并拼成完整的透照投影图像.介绍了检测工装设计,完成了探测器的固定、位置调节及实现与检测工件的相对运动.介绍了检测应用中的探测器配置与校准、透照方式选取、运动速度控制、检测参数优化、缺陷定量分析和图像存档管理等.应用结果表明,经过工艺优化,CMOS探测器能够实现大多数产品零部件的射线检测.最后分析了应用中存在的问题及后续研究方向.

关键词：数字化射线检测、CMOS探测器、工艺优化

所属期刊栏目：30

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2008-07-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：226-228,231