表面检测中微小缺陷的识别
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1000-6656.2008.04.004

表面检测中微小缺陷的识别

引用
在表面缺陷检测中,针对光照不均或有纹理的产品上微小缺陷难于识别的问题,提出了一种新的视觉识别方法.该方法首先计算产品表面图像中每行和每列的灰度标准差,然后根据标准差的相对变化量判别缺陷,并确定缺陷的坐标.实验结果表明,该方法能准确识别和定位产品表面的微小缺陷.

表面检测、微小缺陷、视觉识别

30

TG115.28;TP391.41(金属学与热处理)

长江学者和创新团队发展计划基金资助IRT0423

2008-07-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

211-212,215

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

无损检测

1000-6656

31-1335/TG

30

2008,30(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn