X射线TICT中能谱硬化修正模型的数值分析

摘要：

工业计算机断层扫描成像中,由于X射线能谱具有多色性,X射线在透射物质时,能量较低的射线优先被吸收,也即较高能量的X射线的衰减系数比较低能量的X射线的衰减系数小,射线随透射厚度增大,变得更易穿透,即发生了能谱硬化现象.对能谱硬化现象进行了分析,利用Beer定律和X射线与物质作用的特点,提出了能谱硬化修正模型和数值分析,结合Simpson公式,导出了X射线TICT中修正模型的数值解法及其修正方法.对修正后的衰减系数再作卷积反投影重构,即可有效消除能谱硬化造成的影响.

关键词：X射线、工业计算机断层扫描成像技术、硬化修正、Simpson公式

所属期刊栏目：29

分类号：O434.1;TP391(光学)

资助基金：科技部火炬计划;湖南省教育厅资助项目06C606;湖南文理学院校科研和教改项目JJQD05051;湖南省重点建设学科--光学基金

在线出版日期：2007-10-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：457-460