扫描式激光测径技术的算法新探

摘要：

为了提高激光扫描测径技术的测量精度和测量稳定性,在研究了传统的激光扫描法测径的原理和算法后,提出了一种激光扫描测径的新算法.新算法充分利用了扫描光路的几何关系和数值计算技术.在产品生产过程中,新算法的应用提高了测量精度,降低了产品成本.

关键词：管径测量、激光扫描、平场透镜、算法研究

所属期刊栏目：29

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2007-08-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：386-388