微焦点X射线分层成像无损检测方法

摘要：

对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像研究.提出一种新的成像方法,即在现有微焦点X辐射成像系统的基础上,采用一种特殊的摆动式扫描方式,非线性的层面合成可以仅仅从很少的投影中重建物体,该法具有扫描速度快、算法简单、实时性好等特点,适于多层大面积复合材料以及多层电路板的快速成像检测.

关键词：射线检验、数字分层成像、复合材料、印制电路板

所属期刊栏目：24

分类号：TG115.28;TL82;TL99(金属学与热处理)

资助基金：国家自然科学基金19705006

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：185-187