用普通模拟超声探伤仪和不同K值探头探伤的讨论

摘要：

@@ <无损检测>1999年第12期中"同一普通模拟超声仪上使用不同K值探头探伤的尝试[1]"介绍了换用不同K值探头如何进行探伤.该法仅适用于时基线按水平调节的情况,在实际工作中,有时会要求选择数种不同角度的探头配合使用,这时如在同一面板上作DAC曲线则在探伤时易互相影响,有时还会出现换用探头后探测范围不够的问题.

机标关键词：模拟、超声探伤仪、探头、无损检测、探测范围、配合使用、互相影响、选择数、时基线、超声仪、曲线、面板、调节

所属期刊栏目：24

分类号：TG115.28+5(金属学与热处理)

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：35-36