荧光层析X射线照相法——一种新型层析照相技术

摘要：

@@ 1895年,德国物理学家伦琴(Rontgen WC)在研究真空管中的高压放电现象时,发现了X射线.自此,X射线就被广泛应用于医学、工业技术和科学研究等领域.利用X射线的无损检测(NDT)技术就是其重要应用之一.例如,用于医疗临床诊断的X射线照相(X射线拍片)和X射线层析照相(CT),实际上就是X射线NDT技术在医学中的应用,如今,这已成为家喻户晓的一种医学临床诊断手段.在工业NDT领域,X射线的应用则是多方面的,其中较为重要且目前仍被广为采用的NDT技术,主要是X射线照相、X射线实时成象及X射线层析照相(X-CT).工业X-CT克服了X射线照相及实时成象中影象重叠等缺陷,以图象的形式直观、清晰、准确地展示被检物的内部结构、材质组成及缺陷等情况,以此实现对工业产品或部件的NDT,无疑,它在国防及民用工业中有着广阔的应用前景,且在许多应用场合是常规X射线实时成象和超声探伤等NDT方法所不能取代的.因此,工业X-CT被无损检测界称为当今世界最先进的NDT手段.

机标关键词：荧光层析、射线照相法、照相技术、COMPUTED TOMOGRAPHY、应用前景、实时成象、工业技术、无损检测、临床诊断、层析照相、医学临床、诊断手段、应用场合、物理学家、射线拍片、缺陷、内部结构、科学研究、工业产品、放电现象

所属期刊栏目：23

分类号：TG115.28+1(金属学与热处理)

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：505-506