第15届世界无损检测会议论文题录(V)

摘要：

@@ 方法和仪器无损检测用数字射线成象系统的图象质量比较 421Willems P, B Vaessen, P Soltani(比利时)计算机化的射线照相技术——射线检测技术的未来 056Morro F(美国)影响胶片射线照相的重要因素 071Singh RP, E Madhav Rao, T Singh(印度)线性加速器屏的最优化091Rigaud N, JM Tchilian, JP Relet

机标关键词：无损检测、会议论文、题录、胶片射线照相、线性加速器、技术的未来、质量比较、照相技术、数字射线、射线检测、计算机化、成象系统、最优化、比利时、印度、仪器、图象、美国、方法

所属期刊栏目：23

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：226-230