新型二维拉胀材料SiGeS的理论预测及其光电性质

摘要：

二维材料由于其在力学、电学以及光学等领域的潜在应用而受到广泛关注.基于第一性原理计算,通过有序地排列SiH3SGeH3的Si-S-Ge骨架,设计了一种全新的二维材料SiGeS.单层SiGeS具有良好的能量、动力学以及热力学稳定性.SiGeS具有非常罕见的负泊松比.此外,单层SiGeS是间接带隙半导体,其带隙值为1.95 eV.在应变的作用下,SiGeS可转变为带隙范围为1.32—1.58 eV的直接带隙半导体,可被应用在光学或半导体领域.同时,本征SiGeS拥有优异光吸收能力,其最高光吸收系数可达约105 cm–1,吸收范围主要在可见光到紫外波段.在应变下,光吸收范围可覆盖到整个红外波段.这些有趣的性质使得SiGeS成为一种多功能材料,有望被用于纳米电子、纳米力学以及纳米光学等领域.

关键词：第一性原理、二维材料、负泊松比、光学性质

所属期刊栏目：71

分类号：TB383;TN304.21;O641.4

资助基金：国家自然科学基金;资助的课题

在线出版日期：2022-08-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：89-96