不同厚度镥样品中子俘获反应实验研究

摘要：

C6D6闪烁体探测系统结合脉冲权重技术被广泛应用于中子俘获反应截面测量研究.实验中采用的样品厚度直接影响中子束流时间,同时也影响实验数据的可靠性.本文基于中国散裂中子源反角白光束线(CSNS Back-n)C6D6探测系统,对比研究了不同厚度的镥(Lu)样品中子俘获反应截面的实验测量.利用GEANT4蒙特卡罗程序模拟了考虑样品厚度的探测系统光响应,计算出精确的脉冲权重函数.实验中,通过采用较长中子飞行距离和本底测量,得到了高精度的共振区产额分布.通过R矩阵理论分析产额分布,得到了相应的实验共振参数.结果发现,较厚Lu样品因其厚度效应导致共振曲线发生变化,实验共振参数与ENDF/B-VIII.0评价数据库差距较大;然而,较薄Lu样品实验结果能够很好地再现ENDF/B-VIII.0评价数据.

关键词：中子俘获反应截面、中国散裂中子源、共振参数分析

所属期刊栏目：71

分类号：G633.8;O571.55;TL375.17

资助基金：内蒙古自然科学基金项目;内蒙古自然科学基金项目;国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;资助的课题

在线出版日期：2022-04-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：83-90