一个可靠和准确的光电产额谱模型及应用
光电产额谱的实验和理论研究对所有涉及光电的材料和器件都很重要,其中能够准确地从入射光子能量计算光电产额对最大限度地从光电产额谱获取光电材料和器件的电性能的微观信息至关重要.本文在建立起光电产额谱满足的微分方程结合光电产额谱的特有实验结果之后找到了这个满足光电产额谱的特有实验结果下微分方程的解.通过对实验数据进行最小二乘法非线性拟合既验证了这种方法获得的光电产额谱模型的正确性,也得到了每一条光电产额谱的具体数学表达.应用此模型不仅能尽可能精确可靠地计算出两种电性能略有不同的物质相互接触形成结的势垒高度,而且由这个光电产额谱模型能够得到在结中的电子有效占有态的密度能级分布.
光电产额谱、光子能量、模型、结势垒高度
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F224;F403;O231
国家自然科学基金;资助的课题
2021-06-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共8页
102-109