基于谱域相位分辨光学相干层析的纳米级表面形貌成像

摘要：

提出了一种基于谱域相位分辨光学相干层析的纳米级表面形貌成像方法,由干涉光谱计算样品相邻两点的相位差,得到样品表面相位差分图,经过积分,重建样品表面形貌的定量分布.当相邻两点相位差的绝对值小于π,不产生相位包裹,避免了目前的干涉法相位解包裹存在的问题,将干涉法相邻两点相位差绝对值的限制条件由目前的π扩大到2π,提高了干涉法表面形貌成像的适用范围.参考面和样品置于同一平台之上,消除环境干扰及系统振动的影响,噪声幅度小于0.3 nm.通过对光学分辨率片及表面粗糙度标准样板的表面形貌成像,对本方法进行了验证,系统的轴向分辨率优于1 nm.

关键词：谱域光学相干层析、相位分辨、表面形貌、相位包裹

所属期刊栏目：66

分类号：TN2;O1

资助基金：国家自然科学基金61275214, 31170956;河北省自然科学基金批准号:A2015501065, H2015501133资助的课题. Project supported by the National Natural Science Foundation of ChinaGrant . 61275214, 31170956;the Hebei Provincial Natural Science Foundation of ChinaGrant Nos. A2015501065, H2015501133

在线出版日期：2017-08-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共11页

页码：132-142