高分子薄膜表征技术?

摘要：

随着纳米技术在微电子、生物医药、能源等领域的快速发展，如何在纳米尺度构筑性能稳定、性质均一的多功能纳米器件已成为纳米科技领域最具有挑战性的前沿技术之一。具有广泛应用前景的高分子薄膜的制备、性质以及应用研究一直以来都受到学术界与工业界的高度关注对高分子薄膜的内部结构、表面形貌、机械性能、电化学性能等的检测一直是高分子领域的主要研究热点之一。本文综述了高分子薄膜的测试方法，包括原子力显微镜、电子显微镜、X光散射、中子散射、椭圆偏振光等表征技术。

关键词：高分子薄膜、纳米、表征技术

所属期刊栏目：65

分类号：O6 ;TB3

资助基金：国家自然科学基金21274103,21204059;2013年江苏省“创新团队计划”资助的课题

在线出版日期：2016-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：176801-0-176801-15