超高分辨光学相干层析成像技术与材料检测应用?

摘要：

本文报道了一种超高分辨率谱域光学相干层析成像(SD-OCT)系统.该系统基于超连续谱激光光源并截取部分光谱作为宽带光源,其中心波长为665 nm,光谱半高全宽(FWHM)230 nm.系统轴向分辨率0.9μm,轴向扫描速率28600行/秒,横向分辨率3.9μm,横向视场1 mm,最大成像深度0.6 mm(空气中).利用研制的超高分辨率SD-OCT系统,对不同型号的工业砂纸精细结构进行了成像,并与普通SD-OCT的成像结果进行对比,充分展示了研制系统在材料无损检测中优势。

关键词：光学相干层析成像、超连续谱激光光源、超高分辨率、材料检测

分类号：TP3;V47

资助基金：国家自然科学基金61335003,61275196,61327007,11404285,61475143;国家高技术研究发展计划863计划2015AA020515;浙江省自然科学基金LY14F050007;中央高校基本科研业务费专项资金2014QNA5017;教育部留学回国人员科研启动基金资助的课题.* Project supported by the National Natural Science Foundation of ChinaGrant .61335003,61275196,61327007,11404285,61475143;the National High Technology Research and Development Program of ChinaGrant 2015AA020515;the Natural Science Foundation of Zhejiang Province, ChinaGrant LY14F050007;the Funda-mental Research Funds for the Central Universities of Ministry of Education of ChinaGrant 2014QNA5017;the Scientific Research Foundation for the Returned Overseas Chinese Scholars, State Education Ministry

在线出版日期：2015-09-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：174201-1-174201-7