0.18μm部分耗尽绝缘体上硅互补金属氧化物半导体电路单粒子瞬态特性研究?

摘要：

利用脉冲激光入射技术研究100级0.18μm部分耗尽绝缘体上硅互补金属氧化物半导体反相器链的单粒子瞬态效应，分析了激光入射器件类型及入射位置对单粒子瞬态脉冲传输特性的影响.实验结果表明，单粒子瞬态脉冲在反相器链中的传输与激光入射位置有关，当激光入射第100级到第2级的n型金属-氧化物-半导体器件，得到的脉冲宽度从287.4 ps增加到427.5 ps；当激光入射第99级到第1级的p型金属-氧化物-半导体器件，得到的脉冲宽度从150.5 ps增加到295.9 ps.激光入射点靠近输出则得到的瞬态波形窄；靠近输入则得到的瞬态波形较宽，单粒子瞬态脉冲随着反相器链的传输而展宽.入射器件的类型对单粒子瞬态脉冲展宽无影响.通过理论分析得到，部分耗尽绝缘体上硅器件浮体效应导致的阈值电压迟滞是反相器链单粒子瞬态脉冲展宽的主要原因.而示波器观察到的与预期结果幅值相反的正输出脉冲，是输出节点电容充放电的结果。

关键词：单粒子瞬态、脉冲激光、部分耗尽绝缘体上硅、传输导致的脉冲展宽效应

分类号：TN4;TN3

资助基金：国家自然科学基金批准号:11179003,61176095资助的课题.* Project supported by the National Natural Science Foundation of China Grant .11179003,61176095

在线出版日期：2015-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：136102-1-136102-8