交变力磁力显微镜动态成像技术的研究
近年来磁力显微镜(magnetic force microscopy, MFM)对动态磁场信号的测量与分析由于其特殊的工业要求和重要用途而受到广泛关注,本文旨在利用交变磁力对磁性探针的周期性调制发展一种交变力磁力显微镜技术,为磁信息存储工业等重要领域关键技术的发展提供新型的有力的工具。与目前标准MFM采用的设计思路不同,本文的关键在于合理利用MFM频率调制机理,优化设计MFM磁性探针,并且引入动态信号处理模块,实现对交变磁场信号的MFM成像。为达到这些目的,需要从理论上研究MFM探针的频率调制机理,并由实验上设计出动态信号提取模块,二者相辅结合优化设计出具有动态信号测试和分析能力的交变力磁力显微镜技术,由此来测量和解释纳米尺度磁畴结构。
磁力显微镜、纳米磁畴、动态磁性、频率调制
TM2;O4
国家自然科学基金61103148,51202146;2013年“辽宁省高等学校优秀人才支持计划LJQ2013129”和教育部第46批“留学回国人员科研启动项目”资助的课题
2014-09-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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