基于电压变化率的IGBT结温预测模型研究

摘要：

基于半导体物理和IGBT基本结构，通过合理简化与理论推导，建立了电压变化率模型，对电压变化率的影响因素与温度特性进行了深入研究，得出电压变化率随电压或电流的增大，线性增大；随结温增大，线性减小。基于电压变化率模型，建立了IGBT电压变化率结温预测模型。仿真和实验结果验证了模型的正确性与准确性。对实现IGBT结温在线监测、提高IGBT模块及电力电子装置可靠性具有一定的理论意义和应用价值。

关键词：载流子浓度、迁移率、电压变化率、结温预测模型

分类号：TM4;TM9

资助基金：国家自然科学基金面上项目51277178;国家重点基础研究发展计划973项目2013CB035601;国家优秀青年基金51307176资助的课题

在线出版日期：2014-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：177201-1-177201-10