Stadium型介观器件腔中粒子逃逸率的研究

摘要：

本文研究了粒子在二维弱开口的Bunimovich Stadium型介观混沌器件中的逃逸规律。利用经典统计的方法，通过改变器件端口宽度、圆弧半径及器件腔长等参数，首次发现随器件各项参数变化的分形维数与粒子逃逸率趋势符合，并揭示了混沌体系的逃逸指数受器件形状的影响。统计并拟合了粒子逃逸率与粒子波数大小的关系，数值结果表明，粒子逃逸率与波数为二次函数关系，但逃逸率与能量大小不是严格的线性关系。进一步分析了在器件入口处粒子的衍射效应对粒子逃逸的影响，结果表明，衍射效应使粒子逃逸率增加，且粒子数的演化在时间较短时不再满足指数关系，长时间的演化再次满足指数衰减规律。

关键词：介观器件、混沌、逃逸率、衍射效应

分类号：TN2;TQ3

资助基金：国家自然科学基金11104168,10774093资助的课题

在线出版日期：2014-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：170509-1-170509-6