表面态调控对GaN荧光光谱的影响
采用高阻本征GaN薄膜,通过H3PO4刻蚀和SiOxNy薄膜钝化方法对GaN薄膜进行表面态调控,研究了表面态调控对GaN薄膜光致荧光光谱的影响。研究发现, H3 PO4刻蚀对改善GaN薄膜的紫外荧光发射作用不大,但显著增加可见荧光的强度;经SiOx Ny薄膜表面钝化的GaN紫外荧光量子效率增加12-13倍,同时对可见荧光有明显增加。通过比较H3PO4刻蚀和SiOxNy薄膜钝化的室温和低温荧光光谱,探讨了表面态调控对GaN紫外荧光、蓝带荧光和黄带荧光的影响及相关物理机理。
GaN、表面态调控、荧光光谱
O65;TN3
2014-08-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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