一种光学频率梳绝对测距的新方法?

摘要：

采用光学频率梳的高精度绝对距离测量技术在航空航天、科学研究和工业生产等领域都发挥着重要作用.提出一种利用光学频率梳技术，通过检测光强实现绝对距离测量的新方法，研究了光学频率梳发出脉冲的时间相干性，分析了光强与被测距离之间的关系、干涉条纹峰值点位置与被测距离之间的关系.建立了基于Michelson干涉原理的测距系统，通过测量光强信息得到被测距离.以高精度纳米位移平台的位移量作为长度基准进行了绝对测距实验，在每个被测距离点都重复进行了10次实验，将10次实验测得的光强值取平均后用于距离的计算.实验结果表明，该方法可以实现绝对距离测量，在10μm测量范围内，最大误差为47 nm.因此，该方法可以应用于大尺寸高精度的绝对距离测量.

关键词：光学频率梳、绝对测距、光强

分类号：TH7;O4

资助基金：国家自然科学基金51105274;高等学校博士学科点专项科研基金20120032130002;精密测试技术及仪器国家重点实验室基金批准号:pil1201资助的课题.@@@@ Project supported by the National Natural Science Foundation of ChinaGrant 51105274;the Specialized Research Fund for the Doctoral Program of Institution of Higher Education of ChinaGrant 20120032130002;the Foundation of State Key Laboratory of Precision Measurement Technology and Instruments, ChinaGrant pil1201

在线出版日期：2014-06-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：100601-1-100601-10