高亮度蓝绿色长余辉材料Ba4（Si3O8）2：Eu2+，Pr3+的发光性能及其余辉机理研究

摘要：

通过高温固相法在还原气体保护下合成Ba4(Si3 O8)2：Eu2+， Pr3+样品及一系列参比样品。分别利用两种模式测得光致发光与余辉光谱。结果显示：光致发光与余辉的发光中心均是Eu2+离子；共掺Pr3+在基质中引入新的俘获载流子的缺陷。热释光与余辉衰减测试表明，与单掺Eu2+所形成的陷阱深度相比，共掺Pr3+导致余辉强度增强是归因于：在浅陷阱区(T1区)的陷阱深度变得更浅。而余辉时间增长是归因于：在深陷阱区(T2区)深陷阱密度大幅度减少。同时发现在不同激发波长下激发，余辉机理中的激发路径归结于以下两种过程。其一：268 nm激发时，是基质中的电子被直接激发至陷阱。其二：330 nm或365 nm激发时，电子从Eu2+基态激发至激发态。随后部分电子通过导带运输被陷阱中心所俘获。因此，余辉强度的不同归结为以上两种载流子俘获路径的不同。

关键词：长余辉、Eu2+发光中心、Eu2+和Pr3+共掺、长余辉机理

分类号：TQ4;TQ1

资助基金：国家自然科学基金61265004,51272097,11204113;云南省自然科学教育基金批准号:2011C13211708资助的课题.* Project supported by the National Natural Science Foundation of ChinaGrant .51272097,61265004,11204113;the Natural Science Foundation of Yunnan Province, ChinaGrant 2011C13211708

在线出版日期：2014-04-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：077804-1-077804-7