利用小尺寸电荷耦合器件实现数字全息高分辨成像

摘要：

为了在降低数字全息显微成像系统成本的同时实现高分辨成像，对像面数字全息显微术的记录与再现过程进行了理论分析，结合系统的点扩散函数，对该系统的横向分辨率进行了分析。得到了如下结论：像面数字全息显微系统的横向分辨率对电荷耦合器件(CCD)光敏面尺寸变化不敏感；对于常见的CCD器件，其像元尺寸的变化对该系统的横向分辨率影响甚微。此外，对像面数字全息显微系统的成像特点进行了分析，结果表明：利用像面数字全息系统可以实现物体信息的完整记录与再现，其成像分辨率及像质优于预放大数字全息系统。利用搭建的数字全息实验记录系统，从强度及位相两方面对理论分析结果进行了验证，实验结果表明了理论分析的正确性。

关键词：像面数字全息术、横向分辨率、点扩散函数、小尺寸电荷耦合器件

分类号：TP3;TH7

资助基金：国家自然科学基金61077001,61144005;河北省自然科学基金F2010001038, F2012402051, F2012402028;河北省科技支撑计划批准号:09277101D,13210201D资助的课题.@@@@Project supported by the National Natural Science Foundation of ChinaGrant .61077001,61144005;the Natural Science Foundation of Hebei Province, ChinaGrant . F2010001038, F2012402051, F2012402028;the Key Technology Research and Development Program of Hebei Province, ChinaGrant .09277101D,13210201D

在线出版日期：2013-12-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：244203-1-244203-10