无源超高频射频识别系统路径损耗研究*

摘要：

　　基于射频识别技术原理及Friis传输方程，导出了自由空间下无源超高频射频识别(RFID)系统路径损耗表达式.结合菲涅耳区理论，分析了菲涅耳余隙及阅读器天线至标签间距两因变量条件下第一菲涅耳区受阻隔对RFID系统路径损耗的影响，并提出了双斜率对数距离路径损耗模型.在开阔室内环境下，测试了菲涅耳余隙及阅读器天线至标签间距变化时的系统路径损耗.测试结果表明：菲涅耳余隙大于第一菲涅耳区半径1.5倍时，刃形障碍物对系统路径损耗影响较小；相比传统对数距离路径损耗模型，双斜率模型标准差减小10%.

关键词：射频识别、路径损耗、菲涅耳区、线性回归

分类号：TN9;U28

资助基金：国家杰出青年基金50925727;国家自然科学基金60876022;国家自然科学基金青年科学基金51107034;国防预研重大项目C1120110004;湖南省教育厅科学研究项目批准号:11C0479资助的课题.*Project supported by the National Natural Science Foundation for Distinguished Young Scholars of ChinaGrant 50925727;the National Natural Science Foundation of ChinaGrant 60876022;the Young Scientists Fund of the National Natural Science Foundation of ChinaGrant 51107034;the National Defense Advanced Research Project, ChinaGrant C1120110004;the Research Foundation of Education Bureau of Hunan Province, ChinaGrant 11C0479

在线出版日期：2013-08-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：142-149