Laue弯晶聚焦特性的光线追迹研究

摘要：

由于可有效降低高热负载的影响，Laue弯晶是插入件辐射高通量密度硬X射线（30keV以上）聚焦、准直和单色化的最有效的光学元件．研究其聚焦光学特性，对发展高性能、高稳定的Laue弯晶单色器具有重要意义．采用自行发展的光线追迹软件较为系统地研究了Laue弯晶的聚焦特性，分析了入射光性质及弯晶参数对聚焦光斑、焦距、发散度等主要光学参数的影响．结果表明，衍射能量越高，聚焦光斑越小，并趋于稳定值；弯曲半径越小，聚焦光斑越小，并在其达到一阈值时得到聚焦光斑的极小值，之后随着弯曲半径的变小，由于像差等因素的影响，聚焦光斑反而变大；晶体越厚，聚焦光斑越大，呈线性正比关系．对于衍射光发散度，其随着衍射能量的增大而变小，并趋于稳定值；其与晶体曲率呈线性正比关系．同时通过研究得到弯晶各参数的合理选择范围．

关键词：X射线光学、Laue弯晶、聚焦特性、光线追迹

所属期刊栏目：61

分类号：O435(光学)

资助基金：国家重点基础研究发展计划973计划2010CB834301;国家自然科学基金10805071;中国科学院对外合作重点项目GJHZ09058资助的课题

在线出版日期：2012-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：156-164