纳米折叠InGaN/GaNLED材料生长及器件特性
在以自组织Ni纳米岛为掩膜制作的n-GaN纳米柱上,利用MOCVD方法外延生长了具有折叠InGaN/GaN多量子阱(MQW)的LED结构外延片,进而制作了LED器件.外延片上中下游的光致荧光测试,结果表明外延片具有很好的均匀性.用该外延片制作的LED的电致发光谱,随注入电流增加没有明显蓝移,这表明纳米结构能更好地释放应力,纳米柱上外延生长的多量子阱,具有较低的压电极化电场.正向工作电流20mA时,LED器件的工作电压为4.6V.
纳米柱LED、光致发光、电致发光
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TN304.2(半导体技术)
天津市自然科学基金IOJCYBJC03000;中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室资助的课题
2012-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
508-511