考虑工艺波动的RC互连树统计功耗

摘要：

为了有效分析考虑工艺波动的RC互连树统计功耗,本文首先给出了考虑工艺波动的互连寄生参数和输入驱动点导纳矩的构建方法,然后,推导得出了互连功耗均值与标准差的表达式.计算结果表明,与目前广泛应用的Monte Carlo分析方法相比,采用本文方法得到的RC互连功耗均值误差小于4.36%,标准差误差则小于6.68%.结果显示,本文方法在确保精度的前提下大大缩短了仿真时间.

关键词：工艺波动、RC互连、统计功耗

所属期刊栏目：60

分类号：TN405.97(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金60606006;国家杰出青年基金60725415;西安电子科技大学基本科研业务费资助的课题

在线出版日期：2011-08-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：486-493