晶粒尺寸对气相沉积薄膜磁取向生长的影响研究
为了研究强磁场下薄膜取向生长规律,采用真空蒸发气相沉积法分别制备了不同磁场方向生长的Zn和Bi薄膜.XRD结果发现磁化率差异较小的Zn薄膜在4T时产生了明显的取向生长,而磁化率差异较大的Bi薄膜在5T磁场强度还没有发生取向生长.SEM结果显示Zn薄膜和Bi薄膜晶粒尺寸上有明显的差别,利用Zn薄膜在4T磁场下的取向建立晶粒尺寸和取向生长的对应关系,提出薄膜发生取向时晶粒的磁化能须大于热能KT的420倍.薄膜是否发生取向生长取决于三个因素:薄膜单个晶粒的大小V,材料不同晶向的磁化率差异△x,施加磁场的大小B.
强磁场、磁取向、薄膜生长、材料电磁加工
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O484.1(固体物理学)
国家自然科学基金50671060
2011-07-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
449-453