超薄Fe(4(A))膜磁特性极化中子反射研究
利用分子束外延薄膜生长技术,制备了200 (A)V/4 (A) Fe/900 V/MgO(100)薄膜样品,通过X射线反射和极化中子反射两种测量手段获得了薄膜的表面、界面及各层膜厚的相关结构信息.中子反射结果表明,Fe原子磁矩在室温下约为1.0±0.1μB,随着温度的降低,Fe原子磁矩增加,在10 K时达到1.5±0.1μB.利用指数定律拟合磁矩随温度的变化情况,外推得出4(A)铁薄膜样品的居里温度约为310±30 K.
超薄Fe膜、磁特性、极化中子反射、分子束外延
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O6(化学)
2010-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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