10.3321/j.issn:1000-3290.2009.08.093
点接触金属/Pr0.7Ca0.3MnO3/Pt结构稳定的低电流电阻开关特性
利用自主开发的导电原子力显微镜控制Pt,W探针构成点接触金属/Pr0.7Ca0.3MnO3(PCMO)/Pt三明治结构,对其电流-电压(I-V)及脉冲诱导电阻开关(EPIR)特性进行了研究.研究发现,在10 nA限流下两种电极对应结构的I-V都表现出相当稳定的双极性电阻开关特性,以及大于100的电阻开关比.进一步测试发现,点接触W/PCMO/Pt器件具有在10 nA限流下稳定的EPIR特性以及100 pA限流下重复的双极性电阻开关特性.此电流比已报道的电流低3个数量级,表明此结构在低功耗存储器件方面的潜在应用.通过对比样品不同位置、不同限流、不同接触面积点接触Pt/PCMO/Pt的I-V回滞特性,把点接触器件在低电流下稳定、显著的电阻开关效应归结于小的器件面积导致强的局域电场加强了O离子迁移效应.
脉冲诱导电阻开关、电场下氧离子迁移、电阻开关
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O4(物理学)
中国科学院知识创新工程重要方向项目KJCX2-SW-W26;国家自然科学基金90406017,10427402
2009-10-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
5730-5735