基于布里渊区谱的二维光子晶格线性缺陷模式分析

摘要：

结合均匀光子晶格的衍射关系和晶格中正负缺陷的布里渊区谱特性,探讨了光诱导二维光子晶格中线性缺陷模式的形成条件,对布里渊区中各点的缺陷模式进行了模拟分析,并得到了光子带隙结构中"嵌入点"X1点的正、负缺陷模式.结果表明:对于二维缺陷,只有当衍射关系曲面中沿两个正交的横向波矢方向同时为正常(反常)衍射的区域才能存在正(负)缺陷模式;而对于一维缺陷,只要在一个横向波矢方向上存在正常(反常)衍射的区域就可以支持正(负)缺陷模式,因此在某些特殊点处,正和负的缺陷模式可以同时存在.X1点正缺陷模式的存在预示着自聚焦非线性同样可以支持带内孤子.研究结果有助于对光子晶格中晶格孤子( 特别是带内孤子)的理解和进一步研究.

关键词：光诱导光子晶格、光子带隙、线性缺陷态

所属期刊栏目：58

分类号：O371(流变学)

资助基金：西北工业大学基础研究基金;西北工业大学博士学位论文创新基金CX200514

在线出版日期：2009-10-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：5467-5472