一种利用光电流和光透过曲线测量电吸收调制器插入损耗因素的方法

摘要：

提出一种新颖的方法用于测量电吸收调制器(electroabsorption modulator,EAM)各种因素造成的插入损耗.此方法仅需要测量波长相关的光电流(Iph-λ)和光透过功率(P-λ)的数据,通过最小二乘法拟合出结果.理论分析表明此方法较精确,实验表明测试结果与理论拟合结果自洽得很好.

关键词：电吸收调制器、插入损耗、吸收曲线、光生电流

所属期刊栏目：58

分类号：O37(流变学)

资助基金：国家自然科学基金90401025;国家重点基础研究发展规划973计划2006CB604901

在线出版日期：2009-06-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：3135-3139