10.3321/j.issn:1000-3290.2009.01.081
Alq3和CdSeS量子点掺杂体系的载流子输运性质的研究
利用飞行时间法(time-of-flight)测定了有机小分子发光材料8-羟基喹啉铝(Alq3)与CdseS量子点掺杂体系的载流子迁移率.研究了Alq3和CdSeS混合薄膜的载流子迁移率与外加电场强度和量子点浓度的变化关系.研究结果表明,CdSeS量子点的掺杂浓度的增加会引起薄膜样品位置无序的增加.除此之外,Alq3和CdSeS量子点界面之间的电荷转移作用,以及在量子点之间进行跳跃传输的电子数量都会改变样品的载流子迁移率.
Alq3、CdSeS量子点、飞行时间法
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O4(物理学)
国家自然科学基金60478015
2009-04-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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