10.3321/j.issn:1000-3290.2008.12.060
Al2O3单晶三明治结构的高温热激发电流
以Al2O3单晶和具有三明治结构的Al2O3单晶-Bi2O3-Al2O3单晶试样为研究对象,测量了在室温到750 ℃之间升温过程和降温过程中这两种试样的热激发电流,仅在三明治结构试样中检测到了热激发电流.随测量过程中升温速率的增大,降温过程中的热激发电流逐渐减小.认为热激发电流是由缺陷离子的扩散所引起,通过扩散活化能的计算发现有两种缺陷参与了热激发电流的形成.
热激发电流、缺陷、扩散
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O6(化学)
国家自然科学基金50477023;教育部新世纪优秀人才支持计划NCET-07-0670
2009-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
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