赝二元固溶体TbGa1-xGex(0≤x≤0.4)的结构与磁性

摘要：

采用电弧熔炼法在高纯氩气保护下合成了一系列TbGa1-xGex(0≤x≤0.4)样品.X射线粉末衍射数据表明,样品均为正交晶系的CrB型结构,空间群为Cmcm.TbGa1-xGex化合物的晶格常数随Ge含量的增加而线性减小,TbGa和TbGe赝二元系在0≤x≤0.4范围内形成固溶体.化合物的顺磁居里温度以及有效磁矩由热磁测量结果确定.相变温度由交流磁化率的测量获得.随Ge含量的增加,化合物的相变温度单调下降.变温X射线粉末衍射实验表明,x=0.2和0.3的样品在110-273 K范围内无结构相变.

关键词：TbGa-TbGe赝二元系、CrB结构、居里温度、磁化强度

所属期刊栏目：57

分类号：O6;O4

资助基金：国家重点基础研究发展计划973计划2006CB601101

在线出版日期：2009-01-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：6482-6487