10.3321/j.issn:1000-3290.2008.02.056
辐射加热Al等离子体的吸收谱实验
报道了辐射加热Al样品的K壳层辐射吸收谱实验. 在神光Ⅱ激光装置上,将8路主激光注入锥柱型金腔产生高温辐射源,利用该辐射源加热腔内的Al薄膜样品,产生温度达到几十电子伏的热稠密等离子体. 相对主激光延迟一定时间后,利用第9路激光短脉冲聚焦打靶加热金盘,产生短脉冲X光点光源. 通过测量0.75-0.85nm波长范围内未经样品衰减以及经过样品衰减后的背光源辐射光谱,得到了Al样品的K壳层吸收谱. 利用细致谱线计算的吸收谱对实验光谱进行拟合,确定了Al样品等离子体的电子温度.
Al等离子体、吸收谱、不透明度
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O53(等离子体物理学)
国家重点实验室基金9140C6804020606
2008-05-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
985-989